对N-Ti3C2TX催化剂进行X射线光电子能谱(XPS)分析 , 以阐明它们的价态和化学成分 。 各种N–Ti3C2TX样品的XPS图像表明存在Ti、C、O、F和N信号 , 但原始Ti3C2TX中不存在N信号(图3a) 。 所有N掺杂样品的N 1s配置的原子浓度列于表S1中 。 在调整退火温度为200、400、600和800 °C的样品时 , Ti3C2TX中的氮原子浓度分别从1.59、3.27、7.86和10.61原子%增加(表S1) , 表明它更容易在高温下而不是在低温下 , 通过在碳位点或末端官能团位点的取代来结合N原子 。 N–Ti3C2TX@200、N–Ti3C2TX@400、N–Ti3C2TX@600和N–Ti3C2TX@800的高分辨率N 1s峰如图3b所示 。 具体来说 , N-Ti3C2TX@200和N-Ti3C2TX@400的N 1s在398.5和400.7 eV处被解卷积为两个峰 , 我们将其分别归因于O-Ti-N中的N-H和阴离子N(图3b). (373840)在400 °C退火的样品的O-Ti-N峰更明显 , 这与MXene结构中掺入的N含量较高和有利的键合配置一致 。 有趣的是 , 当退火温度增加到超过600 °C时 , 额外的氮物质出现在约396.4 eV , 这被归为Ti-Nx结合 。 Ti和N (Ti-Nx)之间的有利相互作用降低了氮的电子密度 , 因为O-Ti-N的结合能(400.7 eV)高于Ti-N (396.4 eV) 。 随着温度升高到800 °C , 由于大量氮的掺入 , O-Ti-N强度急剧下降 。 特别是 , N-Ti3C2TX@800的O-Ti-N峰的原子百分比仅为0.44 atom % , 而N-Ti3C2TX@600的原子百分比为0.61 atom %(表S1) 。 此外 , 在200和400°C退火的N-Ti3C2TX中未发现Ti-N , 表明在较高的氨处理温度下更多的N掺杂剂掺入到平面Ti3C2TX纳米片中 , 并且Ti-N键只能在600°以上的高温下形成C 。 对Ti3C2TX、N–Ti3C2TX@600和N–Ti3C2TX@800的拟合高分辨率XPS O 1s光谱的比较表明 , -OH强度以O-Ti-N为代价降低 , 导致N-O键形成高温煅烧后为531.2 eV , 与N 1s光谱一致(图S3) 。 换句话说 , -OH基团部分被N相关基团取代 , 因为在高退火温度(800 °C)下 , 氧变得不稳定并且大部分被去除 。 因此 , 得到了TiNx@Ti3C2TX的混合相 , 暗示了Ti3C2TX的部分硝化 。 此外 , 一系列样品的F 1s光谱 , 包括原始Ti3C2TX和掺杂的Ti3C2TX , 如图3c所示 。 随着煅烧温度的升高 , 可以清楚地观察到峰强度的降低 , 这表明在NH3气氛下退火可以减少F的量 。 值得注意的是 , 理论研究表明氟可能对HER有害 。 (192023)因此 , 该结果进一步突出了我们的通用方法在提高HER催化活性方面的协同效应 。 Ti 2p和C 1s的XPS核心水平表明 , 氨处理确实导致了Ti氧化态的变化 , 如图S4所示 。 具体而言 , N掺杂Ti3C2TX的Ti 2p光谱可以解卷积为位于454.5、455.0、455.7、456.8、458.9和460.1 eV的六个主峰 , 分别对应于Ti-C、Ti2+、Ti-N、Ti3+、Ti4+、和Ti-F组分(图S4a-d) 。 随着温度从200℃升高到800℃ , 由于Ti的氧化 , Ti4+成分的增加以Ti-C和Ti2+为代价 。 此外 , 一系列N掺杂样品的C 1s光谱也显示出相同的趋势 , 其中Ti-C峰分量随着煅烧温度从200至800℃升高而降低(图S4e-h) , 这是在强同意上述结论 。
图3. Ti3C2TX和N掺杂Ti3C2TXMXene在不同温度下退火的X射线光电子能谱图;在不同温度下退火的N掺杂MXene样品的N 1的核心级XPS;在不同温度下退火的Ti3C2TX和N掺杂的Ti3C2TX的F 1和核心级XPS 。
电化学分析采用三电极系统 , 以旋转圆盘电极(RDE)为工作电极 , 以评估电催化剂在0.5 M H2SO4中的HER催化性能 。 没有IR补偿的电位与反向氢电极(vs RHE)的极化曲线显示在图4a中 。 商业化的20 wt % Pt/C电催化剂表现出最好的HER活性 , 起始电位几乎为零 , 过电位低(@10 mA cm-2) , 而原始Ti3C2TX的催化活性则差很多 , 与之前报道的相似 。 (192324) N–Ti3C2TX@600表现出明显优于其他催化剂的活性 。 具体来说 , N–Ti3C2TX@600的过电位为198 mV (@10 mA cm–2) , 而N–Ti3C2TX@200、N–Ti3C2TX@400和N–Ti3C2TX@800的过电位分别为560、410和分别为390 mV 。 我们将N掺杂后HER反应性的提高归因于来自所有Ti-Nx、N-H和O-Ti-N物种的活性位点的电子调制的协同效应以及有害F终止基团的减少 , 如通过上面的XPS数据 。 应该注意的是 , Ti3C2TXMXene的基础平面上F官能团的存在被证明对HER活性有负面影响 。 因此 , 我们的方法是一种通过调整MXene表面的终端来增强HER反应性的潜在方法 。 令人惊讶的是 , N-Ti3C2TX@600在10 mA cm-2时的过电位为198 mV , 低于N-Ti3C2TX@800(图4a) 。 如果N掺杂电催化剂的催化活性仅取决于之前的工作所证明的Ti-Nx组分 , 那么具有70.3%的N–Ti3C2TX@800应该表现出比具有33.5%的N–Ti3C2TX@600更高的性能(表S1).这使我们研究了文献中忽略的其他与N相关的化合物(即N-H和O-Ti-N)的可能贡献 。 结合XPS结果 , 这些HER结果表明O-Ti-N和N-H组分确实有助于HER活性 。 特别是N-Ti3C2TX@600中N-H(49.3%)和O-Ti-N (17.0%)物种的百分比均高于N-Ti3C2TX@800(N-H分别为23.4和0.68%)和O-Ti-N) , 这证实了这些化合物也有助于提高催化活性 。 该结果意味着适当的煅烧温度(即600 °C)对于实现有益的氮相关物质和电子调节非常重要 , 从而提高催化剂的HER活性 。
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