ROHM开发出采用4引脚封装的SiC MOSFET “SCT3xxx xR”系列( 三 )

此次,SCT3xxx xR系列所采用的4引脚封装(TO-247-4L),可以分离电源源极引脚和驱动器源极引脚,因此,可减少电感分量的影响。这样,能够充分地发挥出SiC MOSFET的高速开关性能,尤其是可以显著改善导通损耗。与以往产品相比,导通损耗和关断损耗合起来预计可降低约35%的损耗。

ROHM开发出采用4引脚封装的SiC MOSFET “SCT3xxx xR”系列

ROHM开发出采用4引脚封装的SiC MOSFET “SCT3xxx xR”系列

SCT3xxx xR系列是采用沟槽栅结构的SiC MOSFET。此次新推出了共6款机型,其中包括650V的3款机型和1200V的3款机型。

ROHM开发出采用4引脚封装的SiC MOSFET “SCT3xxx xR”系列

服务器、基站、太阳能逆变器、蓄电系统、电动汽车的充电站等。

SiC MOSFET评估板“P02SCT3040KR-EVK-001”中配备了非常适用于SiC元器件驱动的ROHM栅极驱动器IC(BM6101FV-C)、各种电源IC及分立产品,可轻松进行元器件的评估。为了提供在同一条件下的评估环境,该评估板不仅可以评估TO-247-4L封装的产品,还可安装并评估TO-247N封装的产品。另外,使用该评估板,可进行双脉冲测试、Boost电路、两电平逆变器、同步整流型Buck电路等评估。

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